TT230時代測厚儀技術參數
更新時間：2011-05-25
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一、TT230時代涂層測厚儀簡述
TT230 涂層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。 技術： 歡迎您的來電來函咨詢，我們將竭誠為您服務
二、涂層測厚儀——執行標準：
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法
J B/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JG 818─93 《電渦流式測厚儀》
三、涂層測厚儀——功能特點 ：
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
具有米、英制轉換功能；
具有打印功能，可打印測量值、統計值；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能；
具有自動關機功能四、涂層測厚儀——技術參數表：
| 測頭類型 | N | |
| 測量原理 | 電渦流 | |
| 測量范圍 | 0-1250um/0-40um（銅上鍍鉻） | |
| 低限分辨力 | 1µm（10um以下為0.1um） | |
| 探頭連接方式 | 一體化 | |
| 示值誤差 | 一點校準（um） | ±[3%H+1.5] |
| 兩點校準（um） | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑（mm） | 凸3 凹10 |
| 基體zui小面積的直徑（mm） | ф5 | |
| zui小臨界厚度（mm） | 0.3 | |
| 溫濕度 | 0~40℃ 20%RH～90%RH | |
| 統計功能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV） | |
| 工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl） | |
| 測量方式 | 連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE） | |
| 上下限設置 | 無 | |
| 存儲能力 | 15 個測量值 | |
| 打印/連接計算機 | 可選配打印機/不能連接電腦 | |
| 關機方式 | 自動 | |
| 電源 | 二節3.6V鎳鎘電池 | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
| 重量 | 150g | |
五、涂層測厚儀——標準配置：
主機
z標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z鐵基體
z充電器
