簡(jiǎn)介：

高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于金屬,塑料,橡膠,電子元器件等材料行業(yè)，用于測(cè)試材料在瞬間下經(jīng)較高溫及較低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,測(cè)試其材料進(jìn)行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

得以在較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的變化。廣泛應(yīng)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、學(xué)術(shù)研究單位，醫(yī)療保險(xiǎn)產(chǎn)業(yè)，航太工業(yè)，半導(dǎo)體工業(yè)，通訊工業(yè)，汽車工業(yè)等行業(yè)。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

GJB 360A-96 環(huán)境試驗(yàn):方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GBT10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GBT11158-2008  高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件規(guī)格

BS EN 2591-323-1998 電氣和光學(xué)連接元件，溫度沖擊試驗(yàn)                            

GJB150.5-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)                    

GJB797.4-1990 器材環(huán)境試驗(yàn)方法  溫度沖擊試驗(yàn)               

HB5830.10-1984 機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件及試驗(yàn)方法  溫度沖擊試驗(yàn)                            

WJ1743.4-1987 1301滅火瓶環(huán)境試驗(yàn)

技術(shù)參數(shù)：