電子產(chǎn)品可靠性能測(cè)試方法高低溫環(huán)境模擬試驗(yàn)箱

所有新的電子通訊產(chǎn)品都必須經(jīng)過檢測(cè)公司的嚴(yán)格檢測(cè)，但由于智能手機(jī)行業(yè)的快速發(fā)展趨勢(shì)，對(duì)手機(jī)的需求越來越多樣化；手機(jī)廠商越來越多元化，新手機(jī)發(fā)布周期縮短，產(chǎn)品穩(wěn)定性難以處理。這對(duì)廠商提出了更高的要求，開發(fā)更實(shí)用的電子通信測(cè)試儀器成為當(dāng)前的任務(wù)。高低溫箱在電子通信行業(yè)也發(fā)揮著越來越重要的作用。

測(cè)試方法如下：

1、將樣品進(jìn)行試驗(yàn)前的檢測(cè)，確保性能功能完好；

2、將受試樣品放進(jìn)溫度箱，擺放在中間位置，電源線信號(hào)線從溫箱的出口出來，和輔助設(shè)備搭接完成；

3、開啟溫度箱控制程序，設(shè)定溫度點(diǎn)，保持時(shí)間，溫度變化速率等條件，確認(rèn)各事項(xiàng)準(zhǔn)備完畢后，開啟試驗(yàn)程序。

4、試驗(yàn)中的檢查，觀察受試樣品是否處于正常工作狀態(tài)。

5、試驗(yàn)后最后檢查，若是貯存試驗(yàn)，試驗(yàn)后觀察產(chǎn)品的性能和功能是否發(fā)生改變。

高溫試驗(yàn)：

1、試驗(yàn)溫度為試驗(yàn)產(chǎn)品的高工作環(huán)境溫度；

2、看產(chǎn)品在高溫的情況下能不能夠使用（比如手機(jī)能否啟動(dòng)）；

3、看產(chǎn)品在測(cè)試的時(shí)候能不能帶電測(cè)試（比如手機(jī)在高溫情況下是否能夠邊充電邊使用）。

低溫試驗(yàn)：

1、試驗(yàn)溫度為試驗(yàn)產(chǎn)品的低工作環(huán)境溫度；

2、看產(chǎn)品在低溫的情況下能不能夠使用（比如手機(jī)能否啟動(dòng)）；

3、看產(chǎn)品在測(cè)試的時(shí)候能不能帶電測(cè)試（比如手機(jī)在低溫情況下是否能夠邊充電邊使用）。

試驗(yàn)時(shí)間為試驗(yàn)樣品在非工作狀態(tài)下達(dá)到溫度穩(wěn)定，然后啟動(dòng)試驗(yàn)樣品進(jìn)行工作，直至試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定或者按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)文件規(guī)定進(jìn)行工作的時(shí)間。

試驗(yàn)的目的確定件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定。則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算。

高低溫測(cè)試檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007

測(cè)試周期：

低溫貯存24小時(shí)

高低溫工作4小時(shí)或2小時(shí)

高溫貯存48小時(shí)

高低溫啟動(dòng)2小時(shí)或1小時(shí)

檢測(cè)報(bào)告周期：

試驗(yàn)后，五個(gè)工作日出具檢測(cè)報(bào)告。